線掃描膜厚儀（離線型）

產品簡介
●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

●硬件&軟件均為創新設計

●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援

●實現高精度測量（已取得專zhuan利）

●實現高速測量（500萬點以上/分）

產品型號：

更新時間：2025-07-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：896

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

詳細介紹在線留言

產品信息

式樣

線掃描膜厚儀（離線型）

測量案例

250mm寬的薄膜案例

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：線掃描膜厚儀（在線型）

返回列表

下一個：膜厚測量系統 FE-3700/5700

在線留言

欧美精品福利,国产精品男女,欧美日韩综合一区,av今日在线

產品簡介
●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

●硬件&軟件均為創新設計

●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援

●實現高精度測量（已取得專zhuan利）

●實現高速測量（500萬點以上/分）

產品信息

式樣

測量案例

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

欧美精品福利,国产精品男女,欧美日韩综合一区,av今日在线

產品簡介 ●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測●硬件&amp;軟件均為創新設計●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援●實現高精度測量（已取得專zhuan利）●實現高速測量（500萬點以上/分）

產品信息

式樣

測量案例

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

產品簡介
●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

●硬件&軟件均為創新設計

●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援

●實現高精度測量（已取得專zhuan利）

●實現高速測量（500萬點以上/分）