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電學(xué)測試儀表
SRS電學(xué)儀表
SR540光學(xué)斬波器
4 Hz 至 3.7 kHz 斬波頻率低相位抖動(dòng)單光束和雙光束實(shí)驗(yàn)和差參考輸出螺栓夾或桿安裝
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SR540 光斬波器
![]() 單光束實(shí)驗(yàn) |
SR540 斬波器可滿足您的所有光學(xué)斬波要求,從簡單的測量到雙光束和互調(diào)實(shí)驗(yàn)。SR540 具有 4 位頻率顯示、前面板頻率控制、模擬電壓頻率控制和兩個(gè)具有可選工作模式的參考輸出。提供兩種陽極氧化鋁刀片:一個(gè) 5/6 槽刀片用于頻率高達(dá) 400 Hz,一個(gè) 25/30 槽刀片用于頻率高達(dá) 3.7 kHz。為每排時(shí)隙對應(yīng)的頻率以及和頻和差頻提供參考輸出。
光斬波器應(yīng)用
單光束實(shí)驗(yàn)
在此應(yīng)用中,單個(gè)光束被外排插槽斬波,右側(cè)BNC的參考輸出用于將鎖相放大器鎖定到斬波頻率。也可以使用內(nèi)行插槽,在這種情況下,左側(cè)BNC將是參考輸出。無論哪種情況,REFERENCE MODE 開關(guān)都處于“向上"位置。
雙光束實(shí)驗(yàn)
![]() 雙光束實(shí)驗(yàn) |
在這種布置中,來自單個(gè)源的輸出被兩排斬波器插槽以兩個(gè)不同的頻率進(jìn)行分離和斬波。一束光束穿過實(shí)驗(yàn),另一束用作參考光束。光束被重新組合并發(fā)送到同一個(gè)探測器。兩個(gè)鎖相用于檢測?內(nèi),對應(yīng)于實(shí)驗(yàn)信號,以及?外,對應(yīng)于參考光束。如果實(shí)驗(yàn)臂中檢測到的信號與控制臂中檢測到的信號成正比,則由于源強(qiáng)度和檢測器效率變化而產(chǎn)生的影響將被消除。
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