產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測試橢偏拉曼AFM
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
對小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測試的關(guān)鍵技術(shù)。
更新時(shí)間：2025-07-24
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：842
拉曼光譜用來測試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強(qiáng)度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機(jī)械應(yīng)力，摻雜和溫度變化等。
更新時(shí)間：2025-07-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：783
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測試，具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。
更新時(shí)間：2025-07-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：828
iSR是一種微光斑測試技術(shù)，用于實(shí)時(shí)刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試
更新時(shí)間：2025-07-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：656
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區(qū)周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
