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少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統

產品簡介

WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被廣泛用于化合物材料的缺陷,雜質和光電效率等參數表征。

產品型號:
更新時間:2025-07-24
廠商性質:生產廠家
訪問量:510
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Capability:

  • 低溫測試

  • 少子壽命測試

  • μ LBIC 微光誘導電流測試

  • 方塊電阻測試

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