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非接觸Hall和方塊電阻測試系統

產品簡介

非接觸Hal和方塊電陽測試系統,可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結構進行測試。

產品型號:
更新時間:2025-07-24
廠商性質:生產廠家
訪問量:857
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Capability:

  • 快速,非破壞

  • 霍爾系數

  • 無需制樣

  • 方塊電阻

  • 霍爾遷移率

  • 載流子濃度/密度

非接觸Hall和方塊電阻測試系統







上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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