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MHS400V-4P探針冷熱臺是一款專門針對半導體芯片研發、測試而設計的產品。這款探針冷熱臺擁有高精度的探針位移平臺，具有良好的真空性能和精準的溫控系統。

MHS-P600G探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學性能隨溫度變化的特征。 熱臺可以搭配顯微鏡，光譜儀，XRD等光學設備。 MHS-P600G可以在-196℃~600℃之間快速且精準的控制樣品的溫度，實現樣品在氣密環境下的變溫光學觀察及測試。

BM600G-4P探針冷熱臺是一款針對半導體芯片研發，測試而專門設計的產品。熱臺擁有高精度的探針位移平臺。